Nanocalc系列膜厚测量仪
字段1 系统:NanoCalc -2000-UV-VIS 字段2 产地:德国 Mikropack
字段3 技术参数 字段4 1.波长:250-850 nm
字段5 2.测量范围 :10 nm-20 um 字段6 主要特点
字段7 1.可分析单层或多层薄膜 字段8 2.无损/非接触
字段9 3.精确(分辨率达0.1nm) 字段10 4.适合于在线监测
字段11 字段12
字段13 字段14
字段15 字段16
字段17 字段18

系统:NanoCalc -2000-UV-VIS
产地:德国 Mikropack
技术参数
1.波长:250-850 nm
2.测量范围 :10 nm-20 um
主要特点
1.可分析单层或多层薄膜
2.无损/非接触
3.精确(分辨率达0.1nm)
4.适合于在线监测