产品介绍：
型号：光谱型成像椭圆偏振仪（Nanofilm_EP3_SW）
厂商：德国欧库睿因（Accurion）
产品功能：
1.精确测量纳米尺度薄膜的厚度，折光率及材料密度；
2.绘制高度分辨率达0.2nm的三维图像；
3.SPR功能可测量蛋白质或DNA在材料表面的吸附；
4.作布鲁斯特角显微镜使用；
5.进行薄膜厚度，折射率的动力学测量。
应用范围：表界面科学研究、物理、化学、生物、医药、介电材料、有机高分子聚合物、金属氧化物、金属钝化膜、各种液体薄膜、自组装单分子层、多层膜物质等等。